设为首页加入收藏
下载详情
文件名称:探针介绍
下载分类:资料下载
浏览次数:1764 次
下载次数:5 次
上传时间:2012-06-28 17:20:18
更新时间:2012-06-28 17:20:18
简介:探针介绍 详情请点击下载

测试探针

电子测试方面

 

测试针,用于测试PCBA的一种探针。 表面镀金,内部有平均寿命3~10万次的高性能弹

簧。 目前国外比较有名的生产厂家有:ECTINGUN QA ,IDISemiprobe

 

探针的材质:WReW, A+

 

1.目前主要采用的材质为WReW, 弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨

损损针长,寿命一般。

 

2A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因

此寿命较长。

 

探针分类 :

 

探针根据电子测试用途可分为:

 

A.光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部

分的探针产品均可替代进口产品;

 

 

 

B.在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在

国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品;

 

C.微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,

国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。

 

 

 

探针主要类型:

 

悬臂探针和垂直探针。

 

悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type

 

垂直探针:垂直型(Vertical Type

 

1ICT探针(ICT series Probes)

 

一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直

径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目前应

用较多的一种探针.

 

2.界面探针(Interface Probes)

 

非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达(Teradyne)

安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.

 

3

微型探针(MicroSeries Probes)

 

两个测试点中间距离一般为0.25mm0.76mm

 

4.开关探针(Switch Probes)

 

开关探针单独一支探针有两路电流.

 

5高频探针(Coaxial Probes)

 

用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz

 

不带屏蔽圈的.

 

6.旋转探针(Rotator Probes)

 

弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过

 

PCBA测试.

 

7.高电流探针(High Current Probes)

 

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

 

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

 

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

 

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长.

 

 

 

 

除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用。

 

 

 

脚注信息
沪ICP备19040700号 版权所有 Copyright(C)2012-2023 上海星盈电子科技有限公司